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周三的书评:“内爆:国家安全的教训,高可靠性航天器,电子学,以及改变他们的力量


内爆:国家安全的教训,高可靠性航天器,电子学,以及改变它们的力量。按L.帕克寺。霍博肯新泽西州:约翰威利父子为IEEE出版社,2013。平装本数字,桌子,致谢,首字母缩略词,缩写,程序名称,索引。ISBN:…继续阅读渐次

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